EPC Sensor

世宗技术(株)通过5年以上的投资正在准备未来食品产业装备的核心零件制造事业. 通过开发高性能传感器,高性能控制器,将国内自动化装备制造技术提升一个阶段.

EPC Sensor 4CH

Edge 测量传感器(激光平行光型 )
MERCURY Series MES07-FC(4CH)

项目	传感器探头	控制器
型号	MES07-MLX	MES07-FC(4CH)
测量宽度	7mm
测量距离	10~300mm
测量间距	500㎲(2㎑/S)
移动程度	±20㎛以下 * ¹
使用温度	±1㎛以下 * ²
移动程度	0 ~ 50 °C
使用及保管湿度	30 ~ 85% RH
数据显示	-	各CH 4Digit FND X 4
Event 输出	-	同步型晶体管输出 8 Output
外部输入	-	4 Input
Analog 输出	-	选择0~5V / ±5V / 0~10V / ±10V
电源	5VDC±10%	12 ~ 30VDC±10%
材质	Case:Aluminum, Lens:glass	Case:ABS
光源	可视半导体激光:CLASS I 650mm	-
外部通信	RS422	RS422 / CUNET / ETHERNET / CAN * ³

*1 : 投受光间距=20㎜, WD=10㎜, 被测体位置=从测量宽度中心移动0.5㎜
*2 : 投受光间距=20㎜, WD=10㎜, 被测体位置=离测量宽度中心3.5㎜，平均20次
*3 : 选择可选板时可能

线形图像传感器方式

作为受光素子，使用CMOS传感器，因此比使用PD为受光素子的类型, 在原理上少受污染的影响.

因为污染, 虽然整体受光量减少, 但没有测量位置的变化.

如果使用污染检测Alarm功能, 将根据污染程度的设置, 发出Alarm.

被测体 Edge 无视功能

Edge 无视功能，是电极灯的Tab在被测体的边缘上时, 为防止Analog输出对应Tab而变化, Hold住Analog输出的功能.

无视功能, 可通过设置被测体Edge经过传感器的时间和
需要无视的大小而使用.

推迟时间 : 0.5ms ~ 127ms
无视大小 : 0 ~ 7mm ( 0 : 没有无视功能 )

Film / Sheet 弯度及宽度测量

用2个传感器探头, 使用传感器探头间的演算功能, 可同时测量弯度和胶片宽度.

Wafer 离心度和 Notch 位置测量

可稳定测量透明度高的Wafer玻璃的离心度和 Notch 位置.

Film / Sheet 厚度测量

把2台传感器连接到控制器, 可同时测量滚子和薄板, 并可正确测量厚度.

产品构成图

外观及尺寸 - 传感器探头

外观及尺寸 - FND 4CH 控制器